




航天技术的不断发展, 泄漏问题已经成为航天产品设计制造中必须考虑的关键因素,越来越多的收到各方关注,相关电子元器件漏率检测已经引起科研人员的高度重视,目前应用检漏技术的主要是为密封继电器、集成电路外壳。.利用氢质谱检漏仪可以方便地对密封继电器作漏率测定。针对不同的产品,采用合适的检漏方法。目前密封继电器的漏率检测主要是gjb360a-96的112实验程序。
对于分装或总装,采用吸入法。被检工件冲入----氮混合气体,利用被检工件装配面或疑是漏点进行找漏。检漏仪显示数值超过规定值即为有漏。对于体积较大的工件,采用背压发,家电行业---检漏厂,按照工件体积的大小---不同大小的检漏罐。通常把被检工件冲入0.6mpa的纯---或---(含量30%)-氮混合气体,然后放入检漏罐中。漏孔距离质谱室的距离检漏仪反应时间也不同,所以喷---气应先从靠近检漏仪的一侧开始由近至远进行。
测试时,将定量的---气喷吹在怀疑可能泄漏的部位,通过观察检漏仪上的漏率显示来确定该部位是否存在泄漏及泄漏程度的大小。由于真空系统比较庞杂,影响真空的因素多,对此我们在试验前,应先根据真空严密性的试验情况、相关系统及设备的运行情况、机组的检修情况等进行了解分析,初步判断真空泄漏可能发生的设备或系统管道的位置。然后,在试验过程中先对重点怀疑泄漏部位进行检查,再对其他部位按照分系统、分段、逐个设备部件进行---。
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